“飞”行千里，“测”展京城 中科飞测参加2023北京微电子国际研讨会暨IC WORLD大会

9月25日上午，2023北京微电子国际研讨会暨IC WORLD大会（以下简称IC WORLD大会）在北京经开区北人亦创国际会展中心开幕。大会共持续三天。此次大会以“凝‘芯’聚力·奋楫扬帆”为主题，将学术会议与博览会进行有机联动，为我国集成电路和半导体的产业化发展提供更加开放的交流平台。深圳中科飞测科技股份有限公司作为参展企业出席大会。

大会期间，中科飞测将应用于半导体质量控制的量检测产品以模型形式进行展出，展出产品覆盖公司多条产品线，包括无图形晶圆表面缺陷检测设备、套刻精度量测设备、图形晶圆缺陷检测设备和膜厚量测设备等。

作为国内领先的高端半导体质量控制设备企业，中科飞测始终坚持自主研发和自主创新的原则，持续进行研发突破。在展厅中，公司代表通过向观众介绍产品特点、讲解产品性能及产品产业化进展，全方位展示了公司在高端半导体质量控制领域的杰出成果。

此次IC WORLD大会不仅加强了中国半导体产业链各环节企业的融合交流，更充分激发了行业的创新活力，促进企业合作。未来，中科飞测将继续深耕集成电路领域，以行业前沿技术与市场需求为导向，努力促进国内集成电路产业链持续稳定发展。